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高分辨场发射透射电子显微镜
发布人:施安峰  发布时间:2019-12-12   浏览次数:180

型号: JEM-F200
厂商:日本电子株式会社


设备参数
  电子枪:冷场场发射电子枪
  加速电压:20-200KV,
                    连续可调,步长50V
  束流:≥ 2.5nA @ 0.7nm Probe Size
  能量分辨率:≤ 0.3 eV
  图像分辨率:  
    TEM点分辨率:≤ 0.23 nm
    TEM线分辨率:≤ 0.10 nm
    STEM暗场分辨率:≤ 0.16 nm
  放大倍数:
    TEM模式 ×20 - 2,000,000
    STEM模式 ×200 - 150,000,000
  标准双倾杆倾斜角度:X/Y ≥ ± 35°/± 30°
  能量过滤分析系统:   
    能量分辨率: ≤ 0.5eV
    图像畸变: ≤0.75%
  能谱系统:  
    探测器有效面积:≥ 2×100 mm2
    能量分辨率:≤ 133 eV
    元素检测范围:B-U


主要用途:

    除进行常规的材料内部显微形貌、结构、晶体结构、高分辨成像、晶体位向和物相分析外,还可以利用3D 重构软件对材料的三维结构进行重构;以及利用电子能量损失谱(EELS)表征不同原子及不同原子价态的分布。

 
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